{{ name }}
Art.-Nr. {{ combinedCodeWithHighlight }}
Sachnummer:
EAN / GTIN:
Herstellernummer:
Kat. Nr.:
Universal-Feinmesstisch Hartgestein mit Keramikbeschichtung, Tisch Länge: 260mm
Artikel-Nr.: 425237
Katalog-Nr.: 442560
Sachnummer:
Produktdetails
Technische Daten
| Ebenheit | 0,002 µm | |
| Material Messfläche | Hartgestein | |
| Oberfläche Messfläche | diamantgeläppt; keramikbeschichtet | |
| mit Messarm | ja | |
| Durchmesser Messuhraufnahme | 8 mm | |
| mit Feinjustierung | ja | |
| Gelenkarm | ja | |
| Ausladung | 120 mm | |
| Durchmesser Säule | 35 mm | |
| Messhöhe max. | 200 mm | |
| Tisch Länge | 260 mm | |
| Tisch Breite | 140 mm | |
| Messfläche Länge | 200 mm | |
| Messfläche Breite | 140 mm | |
| mit Unterbau | ja | |
| mit Stahlkugeleinsätzen | nein | |
| Norm | DIN 876 | |
| Gewicht | 9,5 kg | |
| Produktart | Messtisch | |
| Kalibrierbar | ja |
Identifikation & Klassifikation
| Artikelnummer | 425237 | |
| Katalognummer | 442560 | |
| EAN / GTIN | 7612908989535 | |
| Herstellernummer | 271-910 | |
| Hersteller/verantwortliche Person | PLANOLITH GmbH, Zeppelinstraße 7, 63741 Aschaffenburg, Deutschland, www.planolith.de |
Beschreibung
Ausführung:
Messfläche fein diamantgeläppt. Extrem starrer und massiver Aufbau. Hartgesteinsplatte aus Naturhartgestein von höchster Güte und Härte.
Standsäule verchromt mit Steilgewinde für Grobverstellung des Querarmes. Der starre Messarm ist mit einer parallel verstellbaren Feineinstellung ausgestattet. Aufnahmebohrung für Messuhren und Feinzeiger ⌀ 8 mm.
Ebenheit ≤ 2 µm.
Mit extrem verschleißfester Keramikbeschichtung (10×härter als Hartgestein).
Standsäule verchromt mit Steilgewinde für Grobverstellung des Querarmes. Der starre Messarm ist mit einer parallel verstellbaren Feineinstellung ausgestattet. Aufnahmebohrung für Messuhren und Feinzeiger ⌀ 8 mm.
Ebenheit ≤ 2 µm.
Mit extrem verschleißfester Keramikbeschichtung (10×härter als Hartgestein).
Verwendung:
Als besonders genauer und stabiler Messtisch, universell für alle Arten von Prüfvorgängen einsetzbar, besonders für Parallelitätsmessungen.